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美國Agilent幅值反射計
Agilent公司提供可以按所需測試距離、速度和精度對光纖進行測量和文檔管理的快速、簡便、*準的測試和監(jiān)測方案，幫助您在各種光纖網絡數(shù)據(jù)測試業(yè)務上取得成功。
Agilent幅值反射計
（反射電壓的）幅度分辨力和（反射點的）距離分辨力。前者主要與顯示噪聲有關；后者與系統(tǒng)上升時間τ 和高頻損耗有關。例如，某取樣示波器上限頻率為18吉赫,且τ為20皮秒的系統(tǒng),可分辨空氣同軸線中相距3毫米左右的兩個不連續(xù)點。時域反射計與電子計算機配合，并使用離散傅里葉變換技術，可將時域波形參數(shù)變換至頻域，從而得出網絡的復數(shù)反射系數(shù)和傳輸系數(shù)，該系統(tǒng)稱為時域自動網絡分析儀。
Agilent幅值反射計
利用定向耦合器分別拾取正比于反射波和入射波的功率，經
反射計
檢波后送至比值計或其他指示器而得出反射系數(shù)幅值的裝置（圖1）。如能保持入射波的幅值恒定不變，則*需一個定向耦合器就能檢取反射波幅度值。反射計的系統(tǒng)誤差主要與定向耦合器的定向性、信號源和檢波器等的匹配情況有關。在圖1的a、b、c各處接入調配元件，就能構成調配式反射計，可用于精*測量。采用掃頻源、寬帶定向耦合器和檢波器可組成掃頻反射計，能快速測量反射系數(shù)的頻率特性，但不能調配，精度較差。
產品簡介：
·測試動態(tài)范圍從18dB、26dB、30dB、35dB直至*大45dB
·高速測試可節(jié)省大量時間
·高精度測試便于在網絡各個細小部分進行特性分析
·高距離分辨率和小的事件和衰減盲區(qū)
·多種測試模塊和功能子模塊任意組合
·使用OTDR加多波長計或光譜分析儀構成DWDM（密集波分復用）測試方案
·所有的測試模塊在所選波長上都具有連續(xù)光源的功能
·*有的交通探測功能自動探測并保護對端光端機不受損壞
·友好的中文操作界面和中文在線幫助
·單鍵操作便于快速自動測試和分析
·交流和電池操作任意選擇
·輕巧、堅固、便攜的結構使儀表在各種環(huán)境下均方便使用
Agilent幅值反射計
（反射電壓的）幅度分辨力和（反射點的）距離分辨力。前者主要與顯示噪聲有關；后者與系統(tǒng)上升時間τ 和高頻損耗有關。例如，某取樣示波器上限頻率為18吉赫,且τ為20皮秒的系統(tǒng),可分辨空氣同軸線中相距3毫米左右的兩個不連續(xù)點。時域反射計與電子計算機配合，并使用離散傅里葉變換技術，可將時域波形參數(shù)變換至頻域，從而得出網絡的復數(shù)反射系數(shù)和傳輸系數(shù)，該系統(tǒng)稱為時域自動網絡分析儀。
利用定向耦合器分別拾取正比于反射波和入射波的功率，經
反射計
檢波后送至比值計或其他指示器而得出反射系數(shù)幅值的裝置（圖1）。如能保持入射波的幅值恒定不變，則*需一個定向耦合器就能檢取反射波幅度值。反射計的系統(tǒng)誤差主要與定向耦合器的定向性、信號源和檢波器等的匹配情況有關。在圖1的a、b、c各處接入調配元件，就能構成調配式反射計，可用于精*測量。采用掃頻源、寬帶定向耦合器和檢波器可組成掃頻反射計，能快速測量反射系數(shù)的頻率特性，但不能調配，精度較差。
產品簡介：
·測試動態(tài)范圍從18dB、26dB、30dB、35dB直至*大45dB
·高速測試可節(jié)省大量時間
·高精度測試便于在網絡各個細小部分進行特性分析
·高距離分辨率和小的事件和衰減盲區(qū)
·多種測試模塊和功能子模塊任意組合
·使用OTDR加多波長計或光譜分析儀構成DWDM（密集波分復用）測試方案
·所有的測試模塊在所選波長上都具有連續(xù)光源的功能
·*有的交通探測功能自動探測并保護對端光端機不受損壞
·友好的中文操作界面和中文在線幫助
·單鍵操作便于快速自動測試和分析
·交流和電池操作任意選擇
·輕巧、堅固、便攜的結構使儀表在各種環(huán)境下均方便使用
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